可精確測(cè)量目前分光光度計(jì)無(wú)法測(cè)量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率，不會(huì)與樣品背面的反射光產(chǎn)生干涉；是測(cè)量曲面反射率、鍍膜評(píng)價(jià)、微小部品的反射率測(cè)定系統(tǒng)；實(shí)現(xiàn)非破壞性測(cè)量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標(biāo)準(zhǔn)。

 

產(chǎn)品內(nèi)容

 

1消除背面反射光

 

采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。 不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定弧度鏡片表面的反射率。

 

2可測(cè)定微小區(qū)域的反射率（消除曲面反射測(cè)試帶來(lái)的誤差）?

 

用物鏡對(duì)焦于樣本表面的微小光斑（ø60 μm），可以測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

 

3測(cè)定時(shí)間短?

 

由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線(xiàn)傳感器的高速分光測(cè)光機(jī)構(gòu)，可以進(jìn)行快速、高重復(fù)性的測(cè)定。

 

4支持XY色度圖、L*a*b*測(cè)定?

 

可以依據(jù)分光測(cè)色法，通過(guò)分光反射率測(cè)定物體顏色；比較色差。更真實(shí)反映材料主觀感受色彩。

 

5綜合對(duì)比反射均勻度測(cè)量

 

提供6組數(shù)據(jù)對(duì)比，可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意取點(diǎn)測(cè)量，分析鏡片各部分反射均勻性。

 

使用方法  

 

1、把探頭與電控箱連接，同時(shí)接上電源，開(kāi)機(jī)預(yù)熱10-15分鐘。此時(shí)應(yīng)把探頭放在黑色標(biāo)準(zhǔn)板上為佳。

 

2、校零：把探頭放在白色標(biāo)準(zhǔn)板上，調(diào)整主機(jī)上的校零旋鈕，使主機(jī)數(shù)字顯示為000.0，允許變動(dòng)±0.1.

 

3、校正標(biāo)準(zhǔn)值：把探頭放在白色標(biāo)準(zhǔn)板上，調(diào)整主機(jī)的校標(biāo)旋鈕，使主機(jī)顯示的數(shù)值與白色標(biāo)準(zhǔn)板的標(biāo)定一致。允許變動(dòng)±0.1反復(fù)調(diào)整一次（校零、校標(biāo)）。

 

4、測(cè)量RB值：把探頭移至放有試樣的黑色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數(shù)值即為RB值。

 

5、測(cè)量RW值：把探頭移至放有試樣的白色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數(shù)值即為RW值。

 

6、計(jì)算求得對(duì)比率對(duì)比率（這概率）=RB/RW×100%。