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人工晶狀體光學(xué)分析儀的介紹

更新時(shí)間:2022-11-24      點(diǎn)擊次數(shù):1450
在儀器儀表分析方法中,光學(xué)分析法主要依靠電磁輻射與物質(zhì)的相互作用。而光學(xué)分析儀器就是探測這種相互作用的工具。在市場上的各種光學(xué)分析一起種,他們的基本組成部分都有4個(gè),分別是信號發(fā)生器、檢測系統(tǒng)、信號處理系統(tǒng)和信號讀出系統(tǒng)。另外在現(xiàn)代話的儀器儀表中,光學(xué)分析儀器的組成部分還包括了計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)。那么,接下來我們就分別為大家介紹這幾種組成部分:
 
信號發(fā)生器是將被測物質(zhì)的某一物理或化學(xué)性質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榉治鲂盘?,如原子、分子吸收輻射產(chǎn)生的原子、分子吸收光譜;物質(zhì)受熱、熱激發(fā)產(chǎn)生的原子發(fā)射光譜等,都是分析信號。產(chǎn)生分析信號的輻射光源與吸收池組合系統(tǒng)為信號發(fā)生器。
 
人工晶狀體光學(xué)分析儀的功能要求
 
1.1采用Phase-Shifting Schlieren測量原理
 
1.2適合單焦、環(huán)曲面、多焦、多焦環(huán)曲面人工晶狀體
 
1.3自動(dòng)識別環(huán)曲面人工晶狀體的標(biāo)記
 
1.4高清晰光焦度分布圖
 
1.5動(dòng)態(tài)測量范圍-100D~+100D
 
1.6方便應(yīng)用于自動(dòng)化生產(chǎn)線
 
1.7一次性校準(zhǔn)
 
1.8全自動(dòng)環(huán)曲面人工晶體測定
 
1.9適用于干濕檢測環(huán)境
 
2.0可*自定義程序
 
 
 
人工晶狀體光學(xué)分析儀的硬件規(guī)格:
 
2.1檢測原理:Phase-Shifting Schlieren測量原理
 
2.2檢測區(qū)域:8x8mm2
 
2.3通光孔徑:最大直徑為8mm
 
2.4光線波長546nm
 
2.5測量速度:4至10秒,具體速度取決于檢測的區(qū)域大小以及檢測的類型
 
2.6光焦度測量范圍:70D(8mm孔徑下)、100D(5mm孔徑下)
 
2.7測量精度:0.001D
 
2.8可重復(fù)性:優(yōu)于0.005D
 
2.9可重復(fù)性方差:0.01D(ISO5725標(biāo)準(zhǔn))
 
3.0外形尺寸:170x220x590(mm)
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