人工晶狀體光學(xué)分析儀的功能要求

1.1采用Phase-Shifting Schlieren測量原理

1.2適合單焦、環(huán)曲面、多焦、多焦環(huán)曲面人工晶狀體

1.3自動識別環(huán)曲面人工晶狀體的標(biāo)記

1.4高清晰光焦度分布圖

1.5動態(tài)測量范圍-100D~+100D

1.6方便應(yīng)用于自動化生產(chǎn)線

1.7一次性校準(zhǔn)

1.8全自動環(huán)曲面人工晶體測定

1.9適用于干濕檢測環(huán)境

2.0可*自定義程序

人工晶狀體光學(xué)分析儀的硬件規(guī)格：

2.1檢測原理：Phase-Shifting Schlieren測量原理

2.2檢測區(qū)域：8x8mm2

2.3通光孔徑：最大直徑為8mm

2.4光線波長546nm

2.5測量速度：4至10秒，具體速度取決于檢測的區(qū)域大小以及檢測的類型

2.6光焦度測量范圍：70D（8mm孔徑下）、100D（5mm孔徑下）

2.7測量精度：0.001D

2.8可重復(fù)性：優(yōu)于0.005D

2.9可重復(fù)性方差：0.01D（ISO5725標(biāo)準(zhǔn)）

3.0外形尺寸：170x220x590（mm）

3.1適用標(biāo)準(zhǔn)：YY0290