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簡要描述:iR-2反射率測量儀可精確測量目前分光光度計(jì)無法測量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率,不會與樣品背面的反射光產(chǎn)生干涉;是測量曲面反射率、鍍膜評價(jià)、微小部品的反射率測定系統(tǒng);實(shí)現(xiàn)非破壞性測量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標(biāo)準(zhǔn)。
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詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生 |
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波長范圍 | 380nm~850nm | 測定方法 | 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對比計(jì)算絕對反射比 |
物鏡 | 10倍半幅物鏡 | 入射角度 | 平行光垂直入射,入射角度0 |
反射比范圍 | 0~100% | 顯示精度 | 0.0001 |
光譜分辨率 | 1nm | 波長準(zhǔn)確度 | ±0.5nm |
積分測量時(shí)間 | ≤0.1% | 測量光斑尺寸 | 60μm |
被檢樣品曲率 | -1R~-∞、+1R~∞ | 觀察方式 | 目鏡觀測、CCD攝像頭采集屏幕顯示 |
對焦方式 | 獨(dú)立LED定位光圈,配合模擬十字靶標(biāo) | 對焦光源 | 6000K?LED |
電壓功率 | AC210~240V?50/60Hz?200VA |
iR-2反射率測量儀
可精確測量目前分光光度計(jì)無法測量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率,不會與樣品背面的反射光產(chǎn)生干涉;是測量曲面反射率、鍍膜評價(jià)、微小部品的反射率測定系統(tǒng);實(shí)現(xiàn)非破壞性測量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標(biāo)準(zhǔn)。
iR-2反射率測量儀:
1消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系統(tǒng),消除背面反射光。 不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定弧度鏡片表面的反射率。
2可測定微小區(qū)域的反射率(消除曲面反射測試帶來的誤差)?
用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑(?60 μm),可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。
3測定時(shí)間短?
由于使用了Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測光機(jī)構(gòu),可以進(jìn)行快速、高重復(fù)性的測定。
4支持XY色度圖、L*a*b*測定?
可以依據(jù)分光測色法,通過分光反射率測定物體顏色;比較色差。更真實(shí)反映材料主觀感受色彩。
5綜合對比反射均勻度測量
提供6組數(shù)據(jù)對比,可在測試區(qū)域內(nèi)任意取點(diǎn)測量,分析鏡片各部分反射均勻性。
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